Svepelektronmikroskop – Wikipedia

Svepelektronmikroskop, scanning electron microscope eller SEM är en typ av elektronmikroskop som skapar bilder av föremål genom att scanna det med en elektronstråle med ett rastermönster. Elektronerna interagerar med atomerna på föremålet vilket i sin tur sänder tillbaka signaler om föremålets yttopografi, sammansättning och andra egenskaper som exempelvis ledningsförmåga.

• 
  Dessa pollenkorn är tagna med hjälp av en SEM och visar karaktär på skärpedjup på SEM mikroskopfotografering.
• 
  SEM öppnad provbehållare.
• 
  Analog typ av scanning med elektronmikroskop.